精密光学機器メーカーの設計履歴解析領域で初導入 設計変更の蓄積を横断解析し、不具合の前兆把握を支援する「AI IPGenius」

設計変更履歴・評価データを横断解析し、品質リスクの兆候整理と技術検討の効率化に寄与

リーガルテック株式会社(東京都港区、代表取締役:平井 智之)は、精密光学機器メーカー(企業名非公開)の設計・開発部門において、設計履歴解析用途としてAIナレッジベース「AI IPGenius」が初導入されたことを発表した。

本導入では、精密光学機器の開発現場において蓄積される設計変更履歴や評価記録を横断的に整理し、技術的な関連性や変化の傾向を把握する用途で活用されている。これにより、過去の設計判断と品質変化の関係を振り返りながら、検討プロセスの整理を支援する。